28.09.2010: Zuverlässigkeit – ein unverzichtbares Merkmal hochintegrierter elektronischer Baugruppen

Hier erhalten Sie die zur Verfügung gestellten Vorträge zur WTT-Veranstaltung "Zuverlässigkeit – ein unverzichtbares Merkmal hochintegrierter elektronischer Baugruppen" als Download:

Klaus Dingler, FED - Fachverband Elektronik-Design e.V.
FED - Ihr Fachverband für Design, Leiterplatten- und Elektronikfertigung

Christian Ruhle, TSB Innovationsagentur Berlin GmbH:
Fördermöglichkeiten für Kooperation zwischen Wissenschaft und Wirtschaft

Kai Löbbicke, Fraunhofer IZM
Modellierung und Optimierung von Leiterplatten, HF-Packages und passiven Komponenten der Mikroelektronik für eine hohe elektromagnetische Zuverlässigkeit

Dr.-Ing. Andreas Eckardt, Deutsches Zentrum für Luft- und Raumfahrt
DLR VIS-IR Satellites and Processing Capability

Henning Förste, Optris GmbH
Infrarotmesstechnik zur Qualitätssicherung im Produktionsprozess

Andreas Kaiser, Kaiser Elektronik
Zuverlässigkeit – Eine Frage des Supply-Chain-Managements?

Downloads

Hr._Dingler_FED_WTT_28.09.2010.pdf - 1.4 M

Hr._Ruhle_Fördermöglichkeiten_WTT_28.09.2010.pdf - 1.5 M

Hr_Löbbicke_Leiterplatten_WTT_28.09.2010.pdf - 1.6 M

Hr._Dr._Eckardt_WTT_28.09.2010.pdf - 2.3 M

Hr._Förste_IR-Grundlagen_WTT_28.09.2010.pdf - 4.8 M

Hr._Kaiser_Zuverlässigkeit_WTT_28.09.2010.pdf - 3.1 M